HS1000型三維表面形貌儀是一款高速的三維形貌儀，*高掃描速度可達1m/s,采用白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米到...
|
ST400型三維表面形貌儀是一款多功能的三維形貌儀，采用白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試...
|
JR25型三維表面形貌儀是一款便攜式表面形貌測量儀，采用白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測...
|
PS50型三維表面形貌儀是一款科研版的三維表面形貌測量設備，采用國際**的白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米...
|
BI-2010粘度檢測器采用毛細管全橋式設計，具有高靈敏、低展寬、低噪音和節約測量時間等特點，其溫控可從室溫達到80℃...
|
BI-DNDC示差折射儀按測量方式區分：在靜態方式下是測量聚合物溶液dn/dc值的專用儀器。采用注射器（2～2.5mL）直接進樣...
|
基于多年光散射技術和經驗開發研制的BI-MwA多角度激光光散射儀（絕.對分子量測定）、對光散射儀器，解決了絕.對分子量...
|
BI-DCP/ BI-XDC是基于經典的離心/沉降原理，通過高精度的數字式電機控制，是具有統計意義的粒度儀中分辨率、準確率很...
|
廣角激光光散射儀采用TurboCorr數字相關器，通過動態光散射的方法可以測量小至1nm的納米顆粒分布情況，通過靜態光散射...
|
90Plus亞微米/納米激光粒度儀基于動態光散射原理，是一種快速、便捷的納米、亞微米粒度分析測試儀器。
動態光散射原...
|
90Plus PALS納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀是能夠精準測量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器，它采用的是真正的...
|
Omni多角度納米激光粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術以及硬件PALS（Phase Anal...
|
表面缺陷檢測與控制PhoeniX是一款用于圓形零件和異形零件的尺寸和表面控制的視覺檢測設備。表面缺陷檢測與控制PhoeniX...
|
表面缺陷檢測與控制ScrappiX是一款用于圓形零件和異形零件的尺寸和表面控制的視覺檢測設備。表面缺陷檢測與控制Scrapp...
|
表面缺陷檢測與控制MatliX是一款用于圓形零件和異形零件的尺寸和表面控制的視覺檢測設備。表面缺陷檢測與控制MatliX可...
|
X射線衍射儀，可變平行光束和聚焦幾何尺寸，可變粉末樣品臺和Eulerian Cradle。具有0.4度狹縫準直器的平行光束檢測器。...
|
佳航JH300／JH500 全自動折光儀配備高性能線陣CCD感光部件，通過高速、高精度的信號采集和分析處理技術，配有半導體帕...
|
儀邁Insmark的IR200系列手持式折光儀，時尚不同的造型，與眾不同的液晶顯示，屏幕導航功能，實現無紙化操作。
IR200系...
|
儀邁Insmark的IR100系列智能折光儀，精度達到高水平0.00001，友好的中文彩屏界面及中英文輸入功能，符合GLP、國際糖度...
|
儀邁Insmark的IP-digi600系列數字旋光儀，分辨率雙精度可選；GLP模式，數據溯源，電子簽名；IP-digi600系列數字旋光儀...
| |
